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葉面積指數(shù)測(cè)定儀

葉面積指數(shù)測(cè)定儀用于各種高度植物冠層的研究,利用魚眼鏡頭和CCD圖像傳感器獲取植物冠層圖像,通過專用分析軟件,獲得植物冠層的相關(guān)指標(biāo)和參數(shù)。
產(chǎn)品品牌: 霍爾德?電子
價(jià)格: 我要詢價(jià)
廠商性質(zhì): 生產(chǎn)廠家
產(chǎn)品時(shí)間: 2024-10-31

產(chǎn)品概述

用途

葉面積指數(shù)測(cè)定儀根據(jù)各種圖像處理手段提取多個(gè)角度的冠層間隙率,采用裝配魚眼鏡頭的相機(jī)從樹冠下向上拍攝冠層照片,利用間隙率參數(shù)來反演出各種冠層參數(shù),導(dǎo)田園合理施肥、現(xiàn)代化農(nóng)場(chǎng)高效管理提供可靠的科學(xué)依據(jù),廣泛應(yīng)用于農(nóng)業(yè)、林業(yè)、植物等科學(xué)研究和生產(chǎn)指導(dǎo)。

測(cè)試原理與方法

葉面積指數(shù)測(cè)定儀采用了冠層孔隙率與冠層結(jié)構(gòu)相關(guān)的原理。它是根據(jù)光線穿過介質(zhì)減弱的比爾定律,在對(duì)植物冠層定義了一系列假設(shè)前提的條件下,采用半理論半經(jīng)驗(yàn)的公式,通過冠層孔隙率的測(cè)定,計(jì)算出冠層結(jié)構(gòu)參數(shù)。這是目前世界上各種冠層儀一致采用的原理。在上述原理下,植物冠層圖象分析儀采用的是對(duì)冠層下天穹半球圖像分析測(cè)量冠層孔隙率的方法,該方法是各類方法中最準(zhǔn)確和省力、省時(shí)、快捷方便的方法。


葉面積指數(shù)測(cè)定儀


技術(shù)指標(biāo)
1.可測(cè)量指標(biāo):
葉面積指數(shù)
葉片平均傾角
聚集指數(shù)1
聚集指數(shù)2
樹冠開闊度
天空散射光透過率
不同太陽高度角下的植物冠層直射輻射透過率(間隙率透光率)
不同太陽高度角下冠層的消光系數(shù)
葉面積密度的方位分布(不透光率)
光合有效輻射(PAR)
2.鏡頭角度:180°
3.分辨率:2592×1944
4.測(cè)量范圍:天頂角由0°~90°(180°魚眼鏡頭)可分割成十個(gè)區(qū)域,方位角360°亦可分割成十個(gè)區(qū)域
5.PAR感應(yīng)范圍:感應(yīng)光譜400nm~700nm
6.測(cè)量范圍0~3000μmol/㎡•S
7.分析軟件:植物冠層分析系統(tǒng)
8.重量:500g
9.工作及存儲(chǔ)環(huán)境:-10℃~55℃≤85%相對(duì)濕度
10.傳輸接口:USB


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